材料分析法の一覧
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材料分析法の一覧:
A
編集- Analytical ultracentrifugation - 超遠心分析
- AAS - 原子吸光分光（Atomic absorption spectroscopy）
- AED - オージェ電子回折（Auger electron diffraction）
- AES - オージェ電子分光（Auger electron spectroscopy）
- AFM - 原子間力顕微鏡（Atomic force microscope|Atomic force microscopy）
- AFS - 原子蛍光分光（Atomic fluorescence spectroscopy）
- APFIM - 原子プローブ電界イオン顕微鏡（Atom probe field ion microscopy）
- APS - 出現電位分光（Appearance potential spectroscopy）
- ARPES - 角度分解光電子分光（Angle resolved photoemission spectroscopy）
- ARUPS - 角度分解紫外光電子分光（Angle resolved ultraviolet photoemission spectroscopy）
- ATR -減衰全反射（Attenuated total reflectance）
B
編集- BET - BET表面積測定 (BETはBrunauer、Emmett、Tellerに由来)
- BiFC - 二分子蛍光補完（Bimolecular fluorescence complementation）
- BKD - 後方散乱菊池回折（Backscatter Kikuchi diffraction）、EBSDを参照
- BRET - 生物発光共鳴エネルギー移動（Bioluminescence resonance energy transfer）
- BSED - 後方散乱電子回折（Back scattered electron diffraction）、EBSDを参照
C
編集- CAICISS - 同軸型直衝突イオン散乱分光（Coaxial impact collision ion scattering spectroscopy）
- CARS - コヒーレント反ストークスラマン分光（Coherent anti-Stokes Raman spectroscopy）
- CBED - 収束電子回折（Convergent beam electron diffraction）
- CCM - Charge collection microscopy（Charge collection microscopy）
- CDI - コヒーレント回折イメージング（Coherent diffraction imaging）
- CE - キャピラリー電気泳動（Capillary electrophoresis）
- CET - クライオ電子線トモグラフィー（Cryo-electron tomography）
- CL - カソードルミネッセンス（Cathodoluminescence）
- CLSM - 共焦点レーザー走査型顕微鏡（Confocal laser scanning microscopy）
- COSY - COSY（Correlation spectroscopy）
- Cryo-EM - クライオ電子顕微鏡（Cryo-electron microscopy）
- Cryo-SEM - クライオ走査型電子顕微鏡（Cryo-scanning electron microscopy）
- CV - サイクリックボルタンメトリー（Cyclic voltammetry）
D
編集- DE(T)A - Dielectric thermal analysis
- dHvA - ドハース・ファンアルフェン効果（De Haas–van Alphen effect）
- DIC - 微分干渉顕微鏡（Differential interference contrast microscopy）
- Dielectric spectroscopy - 誘電分光
- DLS - 動的光散乱（Dynamic light scattering）
- DLTS - 深い準位過渡分光（Deep-level transient spectroscopy）
- DMA - 動的機械分析（Dynamic mechanical analysis）
- DPI - 二面偏波式干渉計（Dual polarisation interferometry）
- DRS - 拡散反射分光（Diffuse reflection spectroscopy）
- DSC - 示差走査熱量測定（Differential scanning calorimetry）
- DTA - 示差熱分析（Differential thermal analysis）
- DVS - 動的蒸気収着（Dynamic vapour sorption）
E
編集- EBIC - 電子線誘起電流（Electron beam induced current） 、IBIC（ion beam induced charge）も参照
- EBS - 弾性（非ラザフォード）後方散乱分光（Elastic (non-Rutherford) backscattering spectrometry）、RBSを参照。
- EBSD - 電子後方散乱回折（Electron backscatter diffraction）
- ECOSY - ECOSY（Exclusive correlation spectroscopy）
- ECT - 電気容量トモグラフィ（Electrical capacitance tomography）
- EDAX - エネルギー分散型X線分析（Energy-dispersive analysis of x-rays）
- EDMR - 電気的検出磁気共鳴（Electrically detected magnetic resonance）、ESRやEPRを参照
- EDS、EDX - エネルギー分散型X線分光（Energy dispersive X-ray spectroscopy）
- EELS - 電子エネルギー損失分光（Electron energy loss spectroscopy）
- EFTEM - エネルギーフィルター透過型電子顕微鏡（Energy filtered transmission electron microscopy）
- EID - 電子誘起脱離（Electron induced desorption）
- EIT、ERT - 電気インピーダンス・トモグラフィ（Electrical impedance tomography）、電気抵抗トモグラフィー（Electrical resistivity tomography）
- EL - エレクトロルミネセンス（Electroluminescence）
- Electron crystallography - 電子線結晶構造解析
- ELS - 電気泳動光散乱（Electrophoretic light scattering）
- ENDOR - 電子核二重共鳴（Electron nuclear double resonance）
- EPMA - 電子線マイクロアナライザ（Electron probe microanalysis）
- EPR - 電子常磁性共鳴（Electron paramagnetic resonance）
- ERD、ERDA - 弾性反跳検出（Elastic recoil detection）または弾性反跳検出分析（Elastic recoil detection）
- ESCA - 化学分析のための電子分光（Electron spectroscopy for chemical analysis）*XPSを参照
- ESD - 電子刺激脱離（Electron stimulated desorption）
- ESEM - 環境制御型走査電子顕微鏡（Environmental scanning electron microscopy）
- ESI-MS、ES-MS - エレクトロスプレーイオン化質量分析法（Electrospray ionization mass spectrometry）、エレクトロスプレー質量分析法（Electrospray mass spectrometry）
- ESR - 電子スピン共鳴
- ESTM - 電気化学走査型トンネル顕微鏡（Electrochemical scanning tunneling microscopy）
- EXAFS - 広域X線吸収微細構造（Extended X-ray absorption fine structure）
- EXSY - EXSY（Exchange spectroscopy）
F
編集- FCS - 蛍光相関分光法（Fluorescence correlation spectroscopy）
- FCCS - 蛍光相互相関分光（Fluorescence cross-correlation spectroscopy）
- FEM - 電界放出顕微鏡（Field emission microscopy）
- FIB - 集束イオンビーム（Focused ion beam）
- FIM-AP - 原子プローブ電界イオン顕微鏡（Field ion microscopy-atom probe）
- Flow birefringence - 流動複屈折
- Fluorescence anisotropy - 蛍光異方性
- FLIM - 蛍光寿命イメージング顕微鏡（Fluorescence Lifetime Imaging Microscopy）
- Fluorescence microscopy - 蛍光顕微鏡
- FOSPM - Feature-oriented scanning probe microscopy
- FRET - 蛍光共鳴エネルギー移動（Fluorescence resonance energy transfer）
- FRS - 前方反跳分光（Forward Recoil Spectrometry）、ERDと同義
- FTICR、FT-MS - フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計（Fourier transform ion cyclotron resonance）、フーリエ変換質量分析（Fourier transform mass spectrometry）
- FTIR - フーリエ変換赤外分光（Fourier transform infrared spectroscopy）
G
編集- GC-MS - ガスクロマトグラフィー–質量分析法（Gas chromatography-mass spectrometry）
- GD-MS - グロー放電質量分析法（Glow discharge mass spectrometry）
- GD-OES - グロー放電発光分光（Glow discharge optical spectroscopy）
- GISAXS - すれすれ入射小角X線散乱（Grazing incidence small angle X-ray scattering）
- GIXD - すれすれ入射X線回折（Grazing incidence X-ray diffraction）
- GIXR - すれすれ入射X線反射率測定（Grazing incidence X-ray reflectivity）
- GLC - 気液クロマトグラフィー（Gas-liquid chromatography）
H
編集- HAADF - 高角環状暗視野像（high angle annular dark-field imaging）
- HAS - ヘリウム原子線散乱（Helium atom scattering）
- HPLC - 高速液体クロマトグラフィー（High performance liquid chromatography）
- HREELS - 高分解能電子エネルギー損失分光（High resolution electron energy loss spectroscopy）
- HREM - 高分解能電子顕微鏡（High-resolution electron microscopy）
- HRTEM - 高分解能透過型電子顕微鏡（High-resolution transmission electron microscopy）
- HI-ERDA - 重イオン弾性反跳検出分析（Heavy-ion elastic recoil detection analysis）
- HE-PIXE - 高エネルギー陽子励起X線放出（High-energy proton induced X-ray emission）
I
編集- IAES - イオン励起オージェ電子分光（Ion induced Auger electron spectroscopy）
- IBA - イオンビーム分析（Ion beam analysis）
- IBIC - イオンビーム誘起電荷顕微鏡（Ion beam induced charge microscopy）
- ICP-AES - 誘導結合プラズマ発光分析（Inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy）
- ICP-MS - 誘導結合プラズマ質量分析（Inductively coupled plasma mass spectrometry）
- Immunofluorescence - 免疫蛍光
- ICR - イオンサイクロトロン共鳴（Ion cyclotron resonance）
- IETS - 非弾性電子トンネル分光（Inelastic electron tunneling spectroscopy）
- IGA - Intelligent gravimetric analysis
- IGF - 不活性ガス融解（Inert gas fusion）
- IIX - イオン励起X線分析（Ion induced X-ray analysis）:粒子線励起X線分析を参照
- INS - 非弾性中性子散乱（Inelastic neutron scattering）、イオン中和分光（Ion neutralization spectroscopy）
- IRNDT - 赤外線非破壊検査（Infrared non-destructive testing of materials）
- IRS - 赤外分光法（Infrared spectroscopy）
- ISS - イオン散乱分光（Ion scattering spectroscopy）
- ITC - 等温滴定カロリメトリー（Isothermal titration calorimetry）
- IVEM - 中間電圧電子顕微鏡（Intermediate voltage electron microscopy）
L
編集- LALLS - 低角レーザー光散乱（Low-angle laser light scattering）
- LC-MS - 液体クロマトグラフィー-質量分析（Liquid chromatography-mass spectrometry）
- LEED - 低速電子線回折（Low-energy electron diffraction）
- LEEM - 低エネルギー電子顕微鏡（Low-energy electron microscopy）
- LEIS - 低エネルギーイオン散乱（Low-energy ion scattering）
- LIBS - レーザー誘起ブレークダウン分光（Laser induced breakdown spectroscopy）
- LOES - Laser optical emission spectroscopy
- LS - 光散乱（Light (Raman) scattering）
M
編集- MALDI - マトリックス支援レーザー脱離イオン化法（Matrix-assisted laser desorption/ionization）
- MBE - 分子線エピタキシー法（Molecular beam epitaxy）
- MEIS - 中エネルギーイオン散乱（Medium energy ion scattering）
- MFM - 磁気力顕微鏡（Magnetic force microscopy）
- MIT - 磁気誘導断層撮影（Magnetic induction tomography）
- MPM - 多光子蛍光顕微鏡（Multiphoton fluorescence microscopy）
- MRFM - 磁気共鳴力顕微鏡（Magnetic resonance force microscopy）
- MRI - 核磁気共鳴画像法（Magnetic resonance imaging）
- MS - 質量分析法（Mass spectrometry）
- MS/MS - タンデム質量分析法（Tandem mass spectrometry）
- MSGE - Mechanically Stimulated Gas Emission
- Mossbauer spectroscopy - メスバウアー分光（Mossbauer spectroscopy）
- MTA - マイクロ熱分析法（Microthermal analysis）
N
編集- NAA - 中性子放射化分析（Neutron activation analysis）
- Nanovid microscopy - Nanovid microscopy
- ND - 中性子回折（Neutron diffraction）
- NDP - 中性子深さ方向分析（Neutron depth profiling）
- NEXAFS - 吸収端近傍X線吸収微細構造（Near edge X-ray absorption fine structure）
- NIS - 中性子非弾性散乱（Nuclear inelastic scattering）
- NMR - 核磁気共鳴分光法（Nuclear magnetic resonance spectroscopy）
- NOESY - 核オーバーハウザー効果分光（Nuclear Overhauser effect spectroscopy）
- NRA - 核反応法（Nuclear reaction analysis）
- NSOM - 走査型近接場光顕微鏡（Near-field scanning optical microscopy）
O
編集P
編集- PAS - 陽電子消滅分光（Positron annihilation spectroscopy）
- Photoacoustic spectroscopy - 光音響分光（Photoacoustic spectroscopy）
- PAT or PACT - 光音響トモグラフィー（Photoacoustic tomography）または光音響コンピュータトモグラフィー（photoacoustic computed tomography）
- PAX - Photoemission of adsorbed xenon
- PC or PCS - 光電流分光（Photocurrent spectroscopy）
- Phase contrast microscopy - 位相差顕微鏡（Phase contrast microscopy）
- PhD - 光電子回折（Photoelectron diffraction）
- PD - 光脱離（Photodesorption）
- PDEIS - Potentiodynamic electrochemical impedance spectroscopy
- PDS - 光熱偏向分光法（Photothermal deflection spectroscopy）
- PED - 光電子回折（Photoelectron diffraction）
- PEELS - 並列型電子エネルギー損失分光（parallel electron energy loss spectroscopy）
- PEEM - 光電子顕微鏡（Photoemission electron microscopy、photoelectron emission microscopy)
- PES - 光電子分光（Photoelectron spectroscopy）
- PINEM - 光子誘起近接場電子顕微鏡法（photon-induced near-field electron microscopy）
- PIGE - 粒子線励起ガンマ線放出（Particle (or proton) induced gamma-ray spectroscopy）、 核反応法を参照
- PIXE - 粒子線励起X線分析（Particle (or proton) induced X-ray spectroscopy）
- PL - フォトルミネッセンス（Photoluminescence）
- Porosimetry - ポロシメトリー（Porosimetry）
- Powder diffraction - 粉末回折法（Powder diffraction）
- PTMS - 光熱変換顕微分光（Photothermal microspectroscopy）
- PTS - 光熱変換分光法（Photothermal spectroscopy）
Q
編集- QENS - 中性子準弾性散乱（Quasielastic neutron scattering）
R
編集- Raman - ラマン分光法（Raman spectroscopy）
- RAXRS - 共鳴異常X線散乱（Resonant anomalous X-ray scattering）
- RBS - ラザフォード後方散乱分光（Rutherford backscattering spectrometry）
- REM - 反射電子顕微鏡（Reflection electron microscopy）
- RDS - 反射率差分光（Reflectance Difference Spectroscopy）
- RHEED - 反射高速電子線回折（Reflection high energy electron diffraction）
- RIMS - 共鳴イオン化質量分析（Resonance ionization mass spectrometry）
- RIXS - 共鳴非弾性X線散乱（Resonant inelastic X-ray scattering）
- RR spectroscopy - 共鳴ラマン分光（Resonance Raman spectroscopy）
S
編集- SAD - 制限視野回折（Selected area diffraction）
- SAED - 制限視野電子回折（Selected area electron diffraction）
- SAM - 走査型オージェ顕微鏡（Scanning Auger microscopy）
- SANS - 中性子小角散乱（Small angle neutron scattering）
- SAXS - X線小角散乱（Small angle X-ray scattering）
- SCANIIR - 粒子衝撃光放射（Surface composition by analysis of neutral species and ion-impact radiation）
- SCEM - 走査型共焦点電子顕微鏡（Scanning confocal electron microscopy）
- SE - 分光エリプソメトリー（Spectroscopic ellipsometry）
- SEC - サイズ排除クロマトグラフィー（Size exclusion chromatography）
- SEIRA - 表面増強赤外吸収分光（Surface enhanced infrared absorption spectroscopy）
- SEM - 走査型電子顕微鏡（Scanning electron microscopy）
- SERS - 表面増強ラマン散乱（Surface enhanced Raman spectroscopy）
- SERRS - 表面増強共鳴ラマン散乱（Surface enhanced resonance Raman spectroscopy）
- SEXAFS - 表面広域X線吸収微細構造（Surface extended X-ray absorption fine structure）
- SICM - 走査型イオンコンダクタンス顕微鏡（Scanning ion-conductance microscopy）
- SIL - ソリッドイマージョンレンズ（Solid immersion lens）
- SIM - ソリッドイマージョンミラー（Solid immersion mirror）
- SIMS - 二次イオン質量分析法（Secondary ion mass spectrometry）
- SNMS - スパッタ中性粒子質量分析（Sputtered neutral species mass spectrometry）
- SNOM - 走査型近接場光顕微鏡（Scanning near-field optical microscopy）
- SPECT - 単一光子放射断層撮影（Single photon emission computed tomography）
- SPM - 走査型プローブ顕微鏡（Scanning probe microscopy）
- SRM-CE/MS - 選択反応検出-キャピラリー電気泳動質量分析法（Selected-reaction-monitoring capillary-electrophoresis mass spectrometry）
- SSNMR - 固体核磁気共鳴（Solid-state nuclear magnetic resonance）
- Stark spectroscopy - シュタルク分光
- STED - 誘導放出抑制顕微鏡（Stimulated Emission Depletion microscopy）
- STEM - 走査型透過電子顕微鏡（Scanning transmission electron microscopy）
- STM - 走査型トンネル顕微鏡（Scanning tunneling microscopy）
- STS - 走査型トンネル分光法（Scanning tunneling spectroscopy）
- SXRD - 表面X線回折（Surface X-ray Diffraction）
T
編集- TAT or TACT - 熱音響トモグラフィー（Thermoacoustic tomography）または熱音響コンピュータトモグラフィー（thermoacoustic computed tomography）、光音響トモグラフィー(PAT)も参照
- TEM - 透過型電子顕微鏡（transmission electron microscopy）
- TGA - 熱重量分析（Thermogravimetric analysis）
- TIKA - Transmitting ion kinetic analysis
- TIMS - 表面電離型質量分析（Thermal ionization mass spectrometry）
- TIRFM - 全反射照明蛍光顕微鏡（Total internal reflection fluorescence microscopy）
- TLS - 熱レンズ分光（Photothermal lens spectroscopy）、光熱分光の一種
- TMA - 熱機械分析（Thermomechanical analysis）
- TOF-MS - 飛行時間型質量分析計（Time-of-flight mass spectrometry）
- Two-photon excitation microscopy - 2光子励起顕微鏡（Two-photon excitation microscopy）
- TXRF - 全反射蛍光X線（Total reflection X-ray fluorescence）
U
編集V
編集- VEDIC - Video-enhanced differential interference contrast microscopy
- Voltammetry - ボルタンメトリー
W
編集X
編集- XAES - X線励起オージェ電子分光（X-ray induced Auger electron spectroscopy）
- XANES - エックス線吸収端近傍構造（X-ray Absorption Near Edge Structure）
- XAS - X線吸収分光法（X-ray absorption spectroscopy）
- X-CTR - X線結晶トランケーションロッド散乱（X-ray crystal truncation rod scattering）
- X-ray crystallography - X線結晶構造解析（X-ray crystallography）
- XDS - X線散漫散乱（X-ray diffuse scattering）
- XPEEM - X線光電子顕微鏡（X-ray photoelectron emission microscopy）
- XPS - X線光電子分光（X-ray photoelectron spectroscopy）
- XRD - X線回折（X-ray diffraction）
- XRES - X線共鳴交換散乱（X-ray resonant exchange scattering）
- XRF - 蛍光X線分析（X-ray fluorescence analysis）
- XRR - X線反射率法（X-ray reflectivity）
- XRS - X線ラマン散乱（X-ray Raman scattering）
- XSW - X線定在波法（X-ray standing wave technique）
参考文献
編集- Callister, WD (2000). Materials Science and Engineering - An Introduction. London: John Wiley and Sons. ISBN 0-471-32013-7
- Yao, N, ed (2007). Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications. Cambridge, UK: Cambridge University Press. ISBN 978-0-521-83199-4