二重収束型質量分析計
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二重収束型質量分析計(にじゅうしゅうそくがたしつりょうぶんせきけい、英: double-focusing mass spectrometer)とは、質量分析計の一形式。
原理
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二重収束質量分析計は、一般的には速度収束をもたらす電場セクターと方向収束をもたらす磁場セクターの二つの分析場を持つ[1]。
試料導入部より導入された原子あるいは分子は、イオン源でイオン化される。ここで生成した電荷数 (z)、質量 (m) の荷電粒子は加速電圧 (V) で加速された後、垂直方向に一様な磁場(磁場強度 B)が印加されている磁場セクターに導入される。一様磁場下では荷電粒子はローレンツ力と遠心力が釣り合うような半径 r の円軌道上を等速円運動するので、以下の式が成り立つ[1]。
加速電場および偏向磁場のどちらかを一定に保ったまま他方を変化させることにより、異なる質量電荷比(m/z 値)の荷電粒子を検出することが可能であるが、通常は磁場強度を変化させることで質量分析を行う。分析内容によっては電圧を変化させる手法も使用される場合がある[1]。
収差補正
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質量範囲
編集磁場掃引法では広い範囲の質量電荷比の測定に適してはいるものの、磁場強度の直線性が低いので、高い質量精度を求める場合には、多くの内部標準荷電粒子が必要なる。反面、電圧掃引法では質量電荷比範囲は限られるものの、電圧の直線性が高く高い質量精度を得られる[1]。